Overfladebeskaffenhed og ruhed

Måleområde

Akkrediteret måleområde:

Kontakt os for mere information

Akkreditering

ISO17025

Akkrediterede kalibreringer og prøvninger udføres under DANAK akkreditering reg. nr. 255 samt vores ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Prøvning af overfladebeskaffenhed

DFM kan måle overfladebeskaffenhed på indvendige og udvendige overflader ved hjælp af en kalibreret ruhedsmåler. Behandlingen af profildata foretages med mulighed for en lang række analyser og evalueringsmetoder.

Ved måling af overfladebeskaffenhed er det muligt at beregne de forskellige standardiserede R-, W- og P-parametre i DS/ISO 4287. Ruhedsparametrene beregnes vha. et Gauss filter efter DS/ISO 11562. Endvidere kan bærekurveparametrene efter DS/ISO 13565-2 beregnes.

 

Beregning af standardiserede DS/ISO 4287 parametre:

R-parametre: Ra, Rq, Rz, Rp, Rv, Rt, Rc, Rdc, Rmr, RSm, Rku, Rsk og Rdq

W-parametre: Wa, Wq, Wz, Wp, Wv, Wt, Wc, Wdc, Wmr, WSm, Wku, Wsk og Wdq

P-parametre: Pa, Pq, Pz, Pp, Pv, Pt, Pc, Pdc, Pmr, PSm, Pku, Psk og Pdq

 

Beregning af DS/ISO 13565-2 bærekurveparametre

Parametre: Rk, Rvk, Rpk, Mr1 og Mr2

 

Udmåling af ruhed

DFM har mulighed for at foretage udmålinger af overfladeruhed over længder op til 500 µm og amplituder mindre end 10 µm. Ruhedens størrelse kan måles helt ned til en atomar skala (< 1 nm). En udmåling kan bruges ved fx kvalitetskontrol af mikromekaniske og mikrooptiske komponenter så som lab on a chip, eller fint polerede overflader til f.eks. støbeforme som bruges til produktion af krævende komponenter.

 

Specialmålinger

DFM har mulighed for at foretage mange forskellige typer målinger indenfor ruhed og overfladebeskaffenhed. Vi kan måle på forskellige typer emner og overflader. Kontakt os, hvis du vil høre nærmere om mulighederne.

 

Kontaktperson

Jørgen Garnæs

Senior Forsker, Nano
+45 2545 9018
jg@dfm.dk

Datablad

Vil du i dialog med DFM?