Ruheds målinger og kalibreringer

Ruhed på nanometerskala

Ydelser på højeste niveau

DFM er førende inden for overfladekarakterisering ned til nanometerskala og benytter både optiske og tactile metoder. Vi har mere end 15 års erfaring med anvendelse af scanning probe mikroskopi (SPM), optisk diffraktions mikroskopi (ODM), ellipsometri, scatterometri, konfokal mikroskopi og interferens mikroskopi.

Vi arbejder jævnligt på at udvikle nye ydelser som er efterspurgt af danske virksomheder men også at forbedre eksisterende ydelser. 

Vi tilbyder ydelser indenfor:

  • Kalibrering af ruhedsmålere
  • Kalibrering af ruhedsnormaler
  • Udmåling af ruhed
  • Kalibrering af hulplader
  • Udmåling af overfladebeskaffenhed
  • Specialmålinger

Hvis du har spørgsmål, søger vejledning eller ikke kan finde hvad du søger på vores hjemmeside så kontakt os.

 

Ruhedsmålere

Kalibrering af ruhedsmålere

DFM kan kalibrere alle typer ruhedsmålere med sporbarhed til internationalt anerkendte normaler. Der kan tilbydes flere forskellige typer kalibreringer idet opbygningen af den aktuelle ruhedsmåler er afgørende for hvilken type, der bør vælges. Vi kan udføre både parameter-, forstærknings- og totalkalibrering.

Akkrediteret kalibrering i området:

Størrelse: 0,2 µm – 10 µm

 

Ønskes kalibrering udenfor disse områder så kontakt os for mere information.

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Kontakt person

Cristian A. Davidsen

Tekniker, Nano
+45 2545 9053
cda@dfm.dk

Datablad

Ruhedsnormaler

Kalibrering af ruhedsnormaler

DFM tilbyder akkrediteret kalibrering af ruhedsnormaler med sporbarhed til internationale standarder. DFM kan kalibrere alle 4 typer ruhedsnormaler, som anvendes ved kalibrering af ruhedsmålere. De forskellige typer ruhedsnormaler er beskrevet i DS/ISO 5436-1:

  • Type A anvendes til kontrol af den vertikale forstørrelse for  profilregistrerende instrumenter med vertikaltmålende taster
  • Type B anvendes primært til kontrol af tastspidsens tilstand
  • Type C anvendes primært til kontrol af parameterregistrerende tastsnit-instrumenter
  • Type D anvendes til den samlede kontrol af instrumentkalibreringen

Akkrediteret kalibrering af følgende ruhedsnormaler:

  • ISO-type A1: Brede riller med plan bund (2 riller)
  • ISO-type A2: Brede riller med afrundet bund (6 riller)

  • ISO-type B2: Riller med enkel form
  • ISO-type C1: Riller med sinusbølgeform
  • ISO-type C2: Riller med ligebenet trekantprofil
  • ISO-type C3: Simulerede sinusbølge riller
  • ISO-type C4: Riller med cirkelbuet bund
  • ISO-type D: Profiler med uregelmæssig form i én retning

Akkrediteret måleområde:

Partikelstørrelse: 100 nm – 5000 nm

Måleområde uden for akkreditering:

Partikelstørrelse: 5000 nm – 10000 nm

Ønskes kalibrering udenfor disse områder så kontakt os for mere information.

 

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Datablad

Kontakt person

Cristian A. Davidsen

Tekniker, Nano
+45 2545 9053
cda@dfm.dk

Udmåling af ruhed

Udmåling af ruhed

DFM har mulighed for at foretage udmålinger af overfladeruhed over længder op til 500 µm og amplituder mindre end 10 µm. Ruhedens størrelse kan måles helt ned til en atomar skala (< 1 nm). En udmåling kan bruges ved kvalitetskontrol og specifikation af mikromekaniske og mikrooptiske komponenter så som lab on a chip. Endvidere fint polerede overflader til f.eks. støbeforme brugt til produktion af krævende komponenter, der anvendes til medicinsk diagnostik, farmaci mm.

Akkrediteret udmåling af ruhed:

Kontakt os for nærmere information

Udmåling af ruhed udenfor akkreditering:

Kontakt os for nærmere information

Kontakt person

Jørgen Garnæs

Senior Forsker, Nano
+45 2545 9018
jg@dfm.dk

Datablad

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Hulplader

Kalibrering af hulplader

DFM tilbyder akkrediteret kalibrering af optomekaniske hulplader. Målingerne foregår dels ved en måling af alle pladens huller efter den såkaldte omslagsmetode, dels ved en komparatormåling, hvor sporbarheden overføres ved hjælp af en kalibreret hulplade. Derudover tilbydes også en akkrediteret D0 kalibrering, hvor hulpladen kun kalibreres i en enkelt position.

Hulplader anvendes blandt andet til kalibrering af koordinatmålemaskiner, profilprojektorer og målemikroskoper. Referenceelementerne i hulpladen består af huller i en tynd metalplade monteret i en stabil fikstur.

 

Akkrediteret kalibrering af hulplader:

Kontakt os for nærmere information

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Datablad

Kontakt person

Søren A. R. Kynde

Senior Forsker, Nano
+45 2545 9040
srk@dfm.dk

Overfladebeskaffenhed

Prøvning af overfladebeskaffenhed

DFM kan måle overfladebeskaffenhed på indvendige og udvendige overflader ved hjælp af en kalibreret ruhedsmåler. Behandlingen af profildata foretages med mulighed for en lang række analyser og evalueringsmetoder.

Ved måling af overfladebeskaffenhed er det muligt at beregne de forskellige standardiserede R-, W- og P-parametre i DS/ISO 4287. Ruhedsparametrene beregnes vha. et Gauss filter efter DS/ISO 11562. Endvidere kan bærekurveparametrene efter DS/ISO 13565-2 beregnes.

Akkrediteret prøvning i området:

Størrelse: 0,05 μm – 400 μm

 

Kontakt person

Jørgen Garnæs

Senior Forsker, Nano
+45 2545 9018
jg@dfm.dk

Datablad

Prøvning udenfor akkreditering:

Kontakt os for nærmere information

 

Beregning af standardiserede DS/ISO 4287 parametre:

R-parametre: Ra, Rq, Rz, Rp, Rv, Rt, Rc, Rdc, Rmr, RSm, Rku, Rsk og Rdq

W-parametre: Wa, Wq, Wz, Wp, Wv, Wt, Wc, Wdc, Wmr, WSm, Wku, Wsk og Wdq

P-parametre: Pa, Pq, Pz, Pp, Pv, Pt, Pc, Pdc, Pmr, PSm, Pku, Psk og Pdq

 

Beregning af DS/ISO 13565-2 bærekurveparametre

Parametre: Rk, Rvk, Rpk, Mr1 og Mr2

 

Ønskes kalibrering udenfor disse områder så kontakt os for mere information.

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Vil du i dialog med DFM?