Partikeltællere og referencepartikler

Kalibrering og certificering

Kalibringer omfattet af ISO 21501-4

DFM’s partikellaboratorium var det første i Danmark, der blev akkrediteret til kalibrering af partikeltællere som er omfattet af ISO 21501-4 og vi kalibrere med en af de bedste nøjagtigheder i verden. 

Vi arbejder jævnligt på at udvikle nye ydelser som er efterspurgt af danske virksomheder men også at forbedre eksisterende ydelser. 

Vi tilbyder ydelser indenfor:

  • Kalibrering af renrumspartikeltællere
  • Certificering af referencepartikler
  • Specialmålinger

Hvis du har spørgsmål, søger vejledning eller ikke kan finde hvad du søger på vores hjemmeside så kontakt os.

 

Partikeltællere

Kalibrering af partikeltællere

Kalibrering af partikeltællere er akkrediteret i henhold til ISO 21501-4. Reference-aerosolerne, der bruges under kalibreringen, er fremstillet af partikler, som er udmålt af DFM under akkreditering og er derfor sporbare til SI-definitionen af meteren.

Akkrediteret kalibrering af følgende parametre:

  • Counting efficiency
  • Size setting error
  • Size resolution
  • False count rate
  • Sampling flow rate
  • Sampling time
  • Response time

Kontakt person

Jacob Larsen

Forsker, Nano
+45 25459050
jla@dfm.dk

Datablad

Akkrediterede måleområder:

Particle concentration: 100 nm – 6000 nm

Size setting error: 200 nm – 6000 nm

Size resolution: 200 nm – 6000 nm

Ønskes kalibrering udenfor disse områder så kontakt os for mere information.

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Referencepartikler

Størrelses certificerede referencepartikler

DFM tilbyder polystyren latex (PSL) partikel suspensioner med sporbarhed til anerkendte nationale og internationale standarder. Partiklerne kan f.eks. anvendes som kalibreringspartikler til optiske partikeltællere i henhold til ISO 21501-4. Udmålingen af partiklerne udføres under akkreditering og i henhold til DS/EN ISO/IEC 17025.

 

Akkrediteret kalibrering i området:

Partikelstørrelse: 100 nm – 5000 nm

 

Måleområde uden for akkreditering:

Partikelstørrelse: 5000 nm – 10000 nm

 Ønskes kalibrering udenfor disse områder så kontakt os for mere information.

 

Akkrediterede kalibreringer udføres i henhold til DANAK Akkreditering Reg. Nr. 255 samt vores internt ISO 9001 certificerede kvalitetssystem.

Datablad

Kontakt person

Mikkel Schou Nielsen

Forsker, Nano
+45 2545 9032
msn@dfm.dk

Vil du i dialog med DFM?