Overfladekarakterisering

DFM er førende inden for overfladekarakterisering ned til nanometerskala og benytter både optiske og tactile metoder. Vi har mere end 15 års erfaring med anvendelse af scanning probe mikroskopi (SPM), optisk diffraktions mikroskopi (ODM), ellipsometri, scatterometri, konfokal mikroskopi og interferens mikroskopi.

Hvis du har spørgsmål, søger vejledning eller ikke kan finde hvad du søger på vores hjemmeside så kontakt os.