Events

Events 2024

Messe: LabDays 2024

Dato:
4. – 5. September 2024

Sted:
KB Hallen, 2000 Frederiksberg

Tid:

9:00 – 16:00

Pris DKK:

LabDays

Mød DFM’s eksperter på vores stand nr 61 for en snak om akkrediteret kalibrering indenfor termometri, elektrokemi, samt rentums- og partikeludstyr.

 

Events 2025

Messe: SPIE Photonics West 2025

Dato:
28. januar – 30. januar 2025

Sted:
Moscone Center, San Francisco, USA

Tid:

10:00 am – 5:00 pm PST

Pris DKK:

Link:

produkttest-FoodTech

Photonics West is the most important event within photonics in North America. 

Meet our photonics experts for a chat about our Stabilaser 1542, quantum optics or another photonics related subject.

 

Messe: Laser World of Photonics 2025

Dato:
24. – 27. juni 2025

Sted:
Messecenter Munich, Tyskland

Tid:

9:00 – 17:00

Pris DKK:

produkttest-FoodTech

Meet our photonics experts at our booth to chat about our Stabilaser 1542, Raman spectroscopy, quantum optics or another photonics related subject.

 

Event: Metrologidagen 2025

Dato:
TBD

Sted:
TBD

Tid: 
9:30 – 15:30

Pris DKK:
TBD

Metrologdagen

World Metrology Day er en årlig fejring af underskrivelsen af ​​Meter Konventionen den i maj 1875 af repræsentanter for sytten nationer. Konventionen satte rammerne for globalt samarbejde inden for videnskab om måling og dets industrielle, kommercielle og samfundsmæssige anvendelser. Det oprindelige mål for målerkonventionen – målingens verdensomspændende ensartethed – er stadig lige så vigtigt i dag som det var i 1875.

Metrologidagen er en tilbagevendende årlig heldagskonference om metrologi. Dagen arrangeres i samarbejde med mellemDFM og FORCE Technology og Teknologisk Institut.

Dato og program for metrologidagen annonceres i starten af 2025.

Messe:  HI-messen 2025

Dato:
30. september – 2. Oktober 2025

Sted:
MCH Messecenter Herning, Vardevej 1, 7400 Herning

Tid:

8:00 – 16:00

Pris DKK:

HI-messe

DFM deltager igen i år på HI-messen. Besøg os på standen og lær mere om vores mange ydelser indenfor akkrediterede kalibrereinger og målinger.