Metrologidagen 2025

ARRANGØR:

DFM

Medarrangører:

Teknologisk Institut
Force Technology

DATO:

26. august 2025

TIDSPUNKT:

08:30 – 17:00

Classic Car House

STED:

Classic Car House
Kongevejen 79
2800 Kgs. Lyngby

PRIS:

DKK 900,-
excl. moms

Tilmelding

    Metrologidagen afholdes årligt som en fejring af underskrivelsen af meterkonventionen den 20. maj 1875 af repræsentanter fra 17 nationer. Dagen arrangeres i samarbejde med DFM, Teknologisk Institut og FORCE Technology og arrangeres i år af DFM.

    Meterkonventionen satte rammerne for globalt samarbejde inden for videnskaben om målinger og i dens industrielle, kommercielle og samfundsmæssige anvendelser. Meterkonventionens oprindelige mål – den verdensomspændende ensartethed af måling – er stadig lige så vigtigt i dag, som det var i 1875.

    I år fejrer vi, at det 150 år siden, meterkonventionen blev underskrevet med et stort program den 26. august 2025 med to parallelle spor – kvante og klassisk metrologi. Der vil være spændende indlæg fra en række internationale og nationale kendte profiler.

    Metrologidagen 150 år

    Program

    Tid Fælles program
    8:30 – 9:00 Registrering, netværk, tilmelding og morgenanretning
    9:00 – 9:15 Velkomst og introduktion – Michael Kjær, DFM
    9:15 – 10:15 Indlæg – Carl J. Williams, CJW Quantum Consulting LLC
    10:15 – 11:00 Sensing and metrology with quantum systems – Klaus Mølmer, Niels Bohr Institute, University of Copenhagen
    11:00 – 11:20 Pause, netværk og postersession
    Program Kvante metrologi: Program Klassisk metrologi:
    11:20 – 11:50 From colour centres to applied quantum sensing – Alexander Huck, DTU Optical temperature measurements – Henrik Kjeldsen, Teknologisk Institut, Mark Søndergaard Sørensen, Hyme og Jesper Bjerge, DFM
    11:50 – 12:10 Towards Traceable Measurements in Quantum Sensing – Christian Bærentsen, DFM
    12:10 – 13:30 Frokost, netværk og postersession
    13:30 – 14:00

    Deterministic photonic chips from fundamental science to commercial products – Peter Lodahl, Sparrow Quantum

    Microbial air sampling for disease monitoring – Karsten Brandt Andersen, AeroCollect
    14:00 – 14:30

    Metrology for quantum photonics technologies at NPL – Christopher Chunnilall, NPL

    Hybrid spectroscopic platform for life-science – Mikael Lassen, DFM
    14:30 – 15:00

    Pause, netværk og postersession
    15:00 – 15:30 Data driven R&D towards large scale quantum computers – Peter Krogstrup, NQCP & Quantum Foundry CPH Traceable calibration in connection with product verification of measuring systems for measuring PtX media – Erik Jensen, Force Technology and EE Kassø Solarpark Metanol.
    15:30 – 16:00 Epitaxy of Quantum Devices & Metrology – Sabbir Khan, DFM Digitale Kalibreringscertifikater – David Balslev-Harder, DFM
    16:00 – 16:45 Decarbonization as Driver for the Transformation of Metrology in the Automotive Industry – Dietrich Imkamp, ZEISS
    16:45 – 17:00 Opsamling og afslutning