Årets tema: Metrologi i den digitale æra

Metrologi spiller en central rolle inden for videnskab, innovation, industriel fremstilling og international handel. Samtidigt er vi midt i en revolutionerende digitalisering af vore samfund og den måde, vi interagerer på, som individer og som organisationer. Men hvad betyder denne digitalisering egentlig for metrologien, og hvordan kan vi som metrologer bedst drage fordel af digitaliseringen? På dette års metrologidag sætter vi derfor fokus på metrologi i den digitale æra.

Dagens program belyser digitaliseringen inden for metrologi fra forskellige vinkler, og du vil få lejlighed til at høre om praktiske erfaringer med konkrete projekter, og om nye metoder.

Hvad er metrologidagen?

Metrologidagen er en årlig fejring af underskrivelsen af ​​meterkonventionen den 20. maj 1875 af repræsentanter fra sytten nationer. Konventionen satte rammerne for globalt samarbejde inden for videnskaben om målinger og i dens industrielle, kommercielle og samfundsmæssige anvendelser. Meterkonventionens oprindelige mål – den verdensomspændende ensartethed af måling – er stadig lige så vigtigt i dag, som det var i 1875.

Program:

09:00 Registrering, netværk og poster session

10:00 Velkomst og introduktion
(Michael Kjær, adm. direktør, DFM)

10:10 Quantum information technology in the digitization era
(Ulrik Lund Andersen, Professor, DTU)

10:40 Metrologi til IoT – udfordringer og muligheder
(Anders Struwe Mynster, Head of Department, loT Technology & Architecture, Force Technology)

11:00 Pause, netværk og poster session

11:20 Hvordan kunstig intelligens er med til at udvikle fremtidens partikeltællere
(Jacob Larsen, Forsker, DFM)

11:40 Digitalisation of metrology process at Novo Nordisk
(Guanghong Zeng, QMS Specialist, Novo Nordisk)

12:10 Frokost, netværk og poster session

13:00 IoT-teknologi til datadrevet dimensionering i vandsektoren
(Mikkel Copeland, konsulent, civ.ing. Energi og klima, Teknologisk Institut)

13:20 Hvordan gøres måledata forståeligt for borgere?
(Erik Thysell, senior specialist, akustik, støj og vibrationer, Force Technology)

13:40 Kaffe, netværk og poster session

14:00 Machine learning an essential and emerging tool for Raman spectroscopy
(Mikael Ø. Lassen, Seniorforsker, DFM)

14:20 Validering af produkt- og fremstillingsinformation (PMI) til geometrisk dimensionering og toleranceinformation
(Emil Meinild Christensen, forretningsleder, Måling og Kvalitet, Teknologisk Institut)

14:40 EMN Sommerskole
(Michael Kjær, adm. direktør, DFM)

14:45-14:55 Opsamling og afslutning