Forskning
Forskning i metrologi
Forskning på højeste niveau
Metrologi og metrologisk kompetence er en central del af den grundlæggende tekniske infrastruktur i et videns baseret samfund. DFM udfører derfor uafhængig forskning i fundamental metrologi bl.a. for at udvikle og vedligeholde de nationale normaler indenfor masse, længde, nano, elektricitet, akustik, elektrokemi og optisk radiometri.
DFM’s fem hovedforskningsområder er:
- Akustik
- Dataanalyse
- Elektrokemi
- Fotonik / Radiometri
- Nano
DFM deltager løbende i forskningsprojekter sammen med industrien og universiteter, bl.a. innovationskonsortier, EU-projekter og projekter finansieret af diverse fonde. Derudover bidrager DFM i tæt samarbejde med universiteterne til uddannelsen af Ph.D. studerende og specialestuderende.
Hvis du har spørgsmål, eller ikke kan finde hvad du søger på vores hjemmeside så kontakt os.
Senest nyt

Stabilaser replaces obsolete 543 nm HeNe laser
As the Danish National Metrology Institute, DFM offers accredited calibration of gauge blocks for length measurement equipment using various methods. The most accurate method is laser interferometry, whereby the length is derived from the interference patterns created...