Forskning
Forskning i metrologi
Forskning på højeste niveau
Metrologi og metrologisk kompetence er en central del af den grundlæggende tekniske infrastruktur i et videns baseret samfund. DFM udfører derfor uafhængig forskning i fundamental metrologi bl.a. for at udvikle og vedligeholde de nationale normaler indenfor masse, længde, nano, elektricitet, akustik, elektrokemi og optisk radiometri.
DFM’s fem hovedforskningsområder er:
- Akustik
- Dataanalyse
- Elektrokemi
- Fotonik / Radiometri
- Nano
DFM deltager løbende i forskningsprojekter sammen med industrien og universiteter, bl.a. innovationskonsortier, EU-projekter og projekter finansieret af diverse fonde. Derudover bidrager DFM i tæt samarbejde med universiteterne til uddannelsen af Ph.D. studerende og specialestuderende.
Hvis du har spørgsmål, eller ikke kan finde hvad du søger på vores hjemmeside så kontakt os.
Senest nyt
DFM develops new small-volume conductivity calibration device
With the growing use of microfluidic systems, lab-on-a-chip devices, and miniature sensors, calibration techniques that can handle very small liquid volumes - such as conductivity calibration - are becoming increasingly important. Accurate calibration of small volumes...





