DU ER VELKOMMEN TIL AT DOWNLOADE MATERIALET

 

Produktark, Elektrokemi

Certificerede referenceopløsninger (CRM) for ledningsevne

Certificerede referenceopløsninger (CRM) for pH

Kalibrering af sensorer og målesystemer for ledningsevne

Sekundær pH-buffer kalibreringer

 

Produktark, Længde (herunder nano- og partikelmetrologi)

Kalibrering inden for området længde (generel oversigt)

Kalibrering af ruhedsmålere

Kalibrering af ruhedsnormaler

Kalibrering af optomekaniske hulplader

Konfokal og interferens-mikroskopi

Kalibrering af partikeltællere

Certificerede nanopartikler til referenceformål

Ellipsometri

Skatterometri

Replikering for karakterisering af svært tilgængelige områder

Udmåling af mikro-krystaller

Mikroadhæsion: Kvantificering af grænsefladers adhæsionskraft med AFM

 

Produktark, Fotonik

OTDR kalibrering

PAS teknologi (fotoakustisk spektroskopi)

RIN målinger (relative intensity noise)

Stabilaser 1542

 

Produktark, Termometri

Kontakttermometri

Non-kontakt (IR) termometri

 

 

Sikkerhedsdatablade (SDS – Safety Data Sheet)

Referencemateriale 0.01 S/m R03.001 (engelsk)

Referencemateriale 0.1 S/m R03.002 (engelsk)

Referencemateriale 1 S/m R03.003 (engelsk)

Referencemateriale 10 S/m R03.004 (engelsk)

Referencemateriale Primary pH buffer ‘Phthalate’ (pH = 4.005) R03.101 (engelsk)

Referencemateriale Primary pH buffer ‘1:1 phosphate’ (pH = 6.865) R03.102 (engelsk)

Referencemateriale Primary pH buffer ‘1:3.5 phosphate (pH = 7.413) R03.103 (engelsk)

Referencemateriale Primary pH buffer ‘Borate’ (pH = 9.180) R03.104 (engelsk)

Referencemateriale Primary pH buffer ‘Carbonate’ (pH = 10.012) R03.105 (engelsk)

Manuskript bag prisbelønnet paper om kalibrering af ultra rent vand

“Direct Traceability for Ultra-Pure Water Conductivity” by Hans D. Jensen, DFM

Udviklingen af en målecelle, der gør det muligt at lave direkte sporbare målinger af ledningsevnen af ultrarent vand.

Læs hele manuskriptet her.

Nanometrology - an introduction | Poul-Erik Hansen DFM et al.

Why should we care about nanometrology?
Why is nanometrology important?
What are the main challenges for nanometrology?
Nanotechnology takes place at the atomic, molecular, meso- and microscopic levels where at least one dimension is below 100nm.
This guide introduces the reader to the science of measurements at the nanoscale, that is nanometrology.

Download here.

Metrology in short

The main purpose of “Metrology – in short” 3rd edition is to increase awareness of metrology and to establish a common metrological frame of reference. It is meant to provide users of metrology with a transparent and handy tool to obtain metrological information.

Download here.