
Kontakt



KALIBRERING I NANOMETERSKALA
Alle målinger er sporbare til en primær normal for længde. Det mikroskop, der anvendes, er udstyret med et laser interferometer og har et måleområde på 500 µm x 500 µm.
Når detaljen og ekspertisen tæller
Produkt info og priser
Du finder information om prisen her.
Karakterisering af silicium liniegitre
DFM mestrer førende skatterometri-teknologi til opmåling af de essentielle parametre for silicium liniegitre. DFM tilbyder derfor nu karakterisering af silicium liniegitre, udtrykt ved liniebredde (CD), højde samt vinkel af sidevæg.
Teknikken kombinerer skatterometri med avanceret databehandling for at opnå de lave og ganske attraktive niveauer af usikkerhed. Teknikken har ikke de samme dimensionelle begrænsninger som mikroskopi-teknologier som f.eks. AFM eller SEM. Ydelsen er sporbar til primære vinkel- og bølgelængdenormaler.
Se denne tabel hvor vi viser et eksempel på en måling af 6 parametre, samt deres usikkerheder, som vist i figuren. Den opnåede usikkerhed vil afhænge af det specifikke emne og materiale. Kontakt os for mere information, eller for et tilbud.
Stephøjde kalibrering
Kalibreringen er sporbar til PTB og er DANAK akkrediteret (akkreditering nr. 255).
2D gitter periode kalibrering
Selve kalibreringen er sporbar til NPL og er DANAK akkrediteret (akkreditering nr. 255).
Optisk karakterisering af lagtykkelse og brydningsindeks for multilag tyndfilm
Usikkerhederne er mindre end 0,5% for begge parametre.
Youngs modul og nano-hårdhedsmåling
Der kan måles på meget små partikler, som f.eks. pulvere eller tynde belægninger, og hårdheden af de yderste 1-100 nm og Youngs modul kan bestemmes.
Udmåling af mikroadhæsion
DFM udmåler adhæsion for overflader og partikler på mikro- og nanoskala ved hjælp af Atomic Force Microscopy (AFM). Vores metode har den fordel, at den er billeddannende med en høj opløsning. Vi kan anvende både spidse prober, for at opnå den højest mulige opløsning, og sfæriske prober, for at opnå den laveste måleusikkerhed for adhæsionsmålingen.
Målingerne kan gennemføres over et bredt temperatur- og fugtområde, og både i luft og i væske. Læs mere i produktarket her.
Udmåling af mikrokrystaller
DFM kan karakterisere den strukturelle stabilitet af mikrokrystallers overflader ved forskellig temperatur og fugtighed.
Læs mere i produktarket her.
Udmåling af ruhed
En udmåling kan bruges ved kvalitetskontrol og specifikation af mikromekaniske og mikrooptiske komponeneter så som lab on a chip. Endvidere fint polerede overflader til f.eks. støbeforme brugt til produktion af krævende komponenter, der anvendes til medicinsk diagnostik, farmaci mm.
Profil udmåling af optiske gitre
Denne nøjagtig udmåling af et optiske gitters profil kan bruges til at optimere den optiske funktion og kvalitetskontrol af det færdige gitter.
Produkt info og priser
Her finder du produkt datablad (UK version) på nanopartikler.
Du finder information om prisen her.