DiaLabXpo

Mød os på DiaLabXpo d. 24. – 26. september i Lokomotivværkstedet i København

Dimensionel metrologi

Spørg os om partikelmetrologi, ruhed, nanometrologi og karakterisering af overflader

Elektrokemi

Referencematerialer og kalibreringer inden for primær og sekundær pH, samt elektrolytisk ledningsevne

Fotonik

Spektroskopi, lyskilder, UV, fotoakustiske metoder og meget andet

Termometri

Kontakttermometri og non-kontakt (IR) termometri

Akustik

Reciprocitets- og sammenligningskalibrering af mikrofoner, frit-felt og tryk

Masse

Kalibrering af lodder på højeste niveau

 

 

 

 

 

 

Kalibrering

Stilles der krav om kalibrering, som kan spores tilbage til en primærnormal? Vi har metoderne og kompetencerne til at lave den kalibrering, du har brug for.

 

 

 

 

 

 

 

Faciliteter og udstyr

DFM har en up-to-date flåde af instrumenter i vore laboratorier. Du kan endda leje noget af udstyret, med deltagelse af DFM’s forskere. Listen af udstyr omfatter Atomic Force Microscope (AFM), konfokal og interferens-mikroskoper, polarimetre, og meget andet.

 

 

 

 

 

 

 

Konsulentarbejde

Mangler du en valid testmetode af dit produkt, skal din virksomhed kvalitetssikres, eller certificeres, eller har du brug for en udviklings-partner med erfaring fra højteknologiske projekter? Kontakt os for et uforpligtende møde.

 

 

 

 

 

 

 

Forskning og Innovation

Stilles der krav om kalibrering, som kan spores tilbage til en primærnormal? Vi har metoderne og kompetencerne til at lave den kalibrering, du har brug for.

 

 

 

 

 

 

 

Referencematerialer

100% sporbarhed. Referencemateriale med et tilhørende certifikat giver dig mulighed for at leve op til de krav, der bliver stillet til kvalitet og sporbarhed i din udvikling og produktion.

 

 

 

 

 

 

 

Kurser og gå-hjem møder

Vi afholder en dags eller flere dages kurser i alle vores discipliner. Vi tilbyder også gratis gå-hjem møder afholdt hos DFM eller i din virksomhed.

 

Nyheder

 

 

 

 

International Metrologidag 2019

DFM afholdte seminar d. 20. maj i forbindelse med de nye definitioner af de syv grund-enheder. Læs mere om SI-definitionerne hos BIPM.

 

 

 

 

 

Berøringsfri termometri hos DFM

DFM tilbyder også kalibreringer inden for berøringsfri termometri, udover kontakttermometri.

 

 

 

 

 

Nye ydelser med AFM

DFM kan nu udmåle adhæsion for overflader og partikler på mikro- og nanoskala, og kan også karakterisere den strukturelle stabilitet af mikrokrystallers overflader.

 

 

 

 

 

 

Effektiv fejlfinding på fibernetværk

Vores akkrediterede kalibrering af OTDR-metre hjælper til en mere præcis lokalisering af fejl.